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Epsilon 3X 是适用于行业过程控制与研发中的元素分析的台式能量色散 X 射线荧光（EDXRF）光谱仪。它是一个高度灵活的分析工具，适合多种行业和应用。先进的光谱处理和顶尖的定量分析算法确保了准确性和精度。
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该仪器分为 Epsilon 3X 和 Epsilon 3XLE 两个版本，两者均配备了全新的高性能 陶瓷射线光管和最新的硅漂移探测器技术。这些仪器在从氟到铀的完整元素范围内提供了准确、精确和可靠的分析，它们可检测出从 100% 到次 ppm 水平的浓度。 |
Epsilon 3 系列
X
Epsilon 3
X
系列荧光光谱仪
主要特点
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通过智能激发和探测技术实现的高灵敏度。
简单可靠的运行。
PANassist
Omnian
FingerPrinting, Straros
和全球服务网络支持。
和监管合规性模块选项。
最新发展
Epsilon3 仪器将最新的射线发生和探测技术与顶尖的分析软件结合到了一起。9 瓦 X 射线管与最新的硅漂移探测器以及紧凑的光路设计相结合，提供了甚至超过 50 瓦功率 EDXRF 系统的分析性能 - 同时还额外提高了能源使用效率。
技术规格
Epsilon 3 是一种能量色散 X 射线荧光光谱仪，可对从 Na 到 Am 的元素（浓度从 ppm 到 100%）进行分析。将Omnian 用于半定量分析，当需要快速分析鉴定时，则使用FingerPrint 来进行材料测试，或者使用 Stratos 来对涂层、表面层和多层结构进行快速、简单和非破坏性的分析。用户还可使用Enhanced Data Security以满足 FDA 21 CFR Part 11 等法规要求。
