QSG 750-II

QSG 750-II火花直读光谱仪也可被称作 OBLF 的旗舰型号,是需要极低的检出限、最高的重现性以及了解分析物相关额外冶金信息(如酸溶铝及酸不溶铝和夹杂物)应用的理想的选择。

采用国际领先的单火花时间分解(GISS)技术。

纯金属分析首选,最多60个分析通道。

主要特点
       
技术参数

帕邢-龙格架法

所有光学及测量器件均安置在真空室中

特殊设计的温度补偿,32±0.1

可承受最大为15/小时的温度变化

步进电机驱动的入射狭缝系统,计算机控制自动描述

凹面光栅,焦距750毫米

光栅刻线数2400/毫米至4500/毫米

一级光谱线色散率最小为0.55nm/mm

 

激发光直接进入真空室

最小的泄露,减少真空泵的运转时间

计算机控制真空泵,运转时间小于5%

 

专利设计的自清洁火花台

最优化的低氩气消耗

气动样品夹用于快速夹持样品

开放式样品台适应各种形状样品

电极寿命大于十万次

 

脉冲放电光源(GDS-III

完全免维护激发光源

单火花分析系统

全部固态电路,无辅助间隙

所有激发参数全部由光谱仪的计算机控制

激发光源频率最高为1000赫兹

具有防止短路功能

 

 

所有的模块均为插接件连接

高压稳定度优于0.2‰

电路自检功能

 

 

采用GISS (单火花时间分解)技术

每个单火花的线性范围:96dB(1:65,536 or 16 bit)

4 bit 的额外调整

激发频率为800赫兹时的测量脉宽可达400微秒

激发频率为800赫兹时的火花激发延迟可达400微秒

每个GISS通道均可进行脉宽和延迟调整

完成60个通道的数据传送及处理时间小于700微秒

模块化设计,方便添加通道

 

Windows7操作系统

自动分析程序选择

对一个样品多次分析的结果进行平均和对重现性的检查

完全标准化

类型标准化

时间分解分析为标准配置

酸溶及酸不溶铝和夹杂物的分析

样品牌号鉴定

动态控制分析测量过程

分析元素的背景校正、谱线重叠、元素间干扰及100%基本校正

特殊合金曲线建立功能

完整的、开放的曲线回归功能

完整的样品管理系统

远端数据传输

在每一次分析前进行系统检查

输出日期/时间,程序名称,样品名称等

 

宽度:1190mm       

深度:900mm

高度:1300mm     

重量:550kg

仪器使用温度:10~30

 

220V±10%50/60Hz

耗电量1.5千瓦

分析一个样品时间大约16秒钟

 

纯度:99.995%以上

 

 

光学系统
真空系统
激发台
光源
高压供应
数据采集系统

软件

尺寸及重量
电源要求
氩气供应(用户提供)

技术特点

OBLF光谱仪的稳定性及耐用性十分优秀,原因是该仪器在硬件及软件上采用了国际领先的技术。

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数据采集系统全部置于真空光室中,真空室局部恒温,受外界环境变化的影响小,重现性及长期稳定性极佳。
专利设计的自清洁激发台,没有静态氩,大大减少了氩气的消耗量。
自动光路校准,光学系统自动进行谱线扫描,确保接收的正确性。
光栅刻线数依用户的分析要求而定,确保达到最佳的分析效果。
采用国际领先的单火花时间分解
(GISS)
技术。
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